Шеманин В, Мкртычев О. Определение параметров оптических покрытий эллипсометрическими методами. ЛИИ [Интернет]. 26 декабрь 2022 г. [цитируется по 20 апрель 2024 г.];2(4):038-44. доступно на: http://lasers-measurement-information.ru/ojs/index.php/laser/article/view/50